局部放电测试仪的相关名词介绍

局部放电测试仪的相关名词介绍

1、局部放电测量法的理论分析

局部放电测试仪测量方法分为电测法和非电测法两大类。电测法应用较多的是脉冲电流法和无线电干扰电压法。电测法已广泛用于局部放电的定量测量。

脉冲电流法的测试原理是试品产生一次局部放电，在其两端就会产生一个瞬时的电压变化，此时在被试品、耦合电容和检测阻抗组成的回路中产生一脉冲电流。脉冲电流经过检测阻抗会在其两端产生一脉冲电压，将此脉冲电压进行采集、放大、显示等处理，就可产生局部放电的一些基本量，尤其是局部放电量。

2、常用的名词术语

(1)局部放电

局部放电测试仪是指在绝缘的局部位置放电，它并不构成整个绝缘的贯通性击穿。它包含三种放电形式:内部放电(在介质内部)、沿面放电(在介质表面)、电晕放电。

(2)电荷量q

在试品两端瞬时注入一定电荷量，使试品端电压的变化和由局部放电本身引起的端电压的变化相同，此注入量即为局部放电的视在电荷量。

(3)视在放电量校准器

视在放电量校准器是一标准电量发生器，试验前它以输出某固定电量加之试品两端，模拟该试品在此电量下放电时局部放电测试仪的响应，此时调整刻度系数，确定局部放电检测仪的量程，以便在试验时测量该试品在额定电压下的视在放电量。因该放电量时以标准电量发生器比较后间接测出，而非直接测出，故此放电量称为"视在放电量"。

校正电量发生器是测量局部放电时的仪器，它的性能参数直接关系到测试结果的准确性。

视在放电量校准器由校准脉冲电压发生器和校准电容串联组成，其参数主要包括:脉冲波形上升时间、衰减时间、内阻、脉冲峰值、校准电容值等。

校准脉冲电压发生器电压波形上升时间为从0.1U0到0.9U0的时间，衰减时间定义为从峰值下降到0.1U0的时间。

(4)检测阻抗

检测阻抗是拾取检测信号的装置，在使用中，应根据不同的测试目的，被试品的种类来选择合适的检测阻抗，以提高局部放电测量的灵敏度、分辨能力、波形特性及信噪比。

(5)时间窗(门单元)

时间窗是为防止大于局部放电的干扰信号进入峰值检波电路而设计的一种电路装置。因在实际试验时，尤其是在现场做试验时，不可避免地会引入一些干扰，所以，时间窗的使用更显得重要。

时间窗的工作原理是把椭圆扫描时基分成导通(加亮区域)和截止(未加亮区域)两部分,通过改变时间窗的位置和宽度将放电脉冲置于导通(加亮区域)，干扰脉冲置于截止(未加亮区域)，此时仪表读数即为放电脉冲数值，而干扰则不论大小，皆不会影响放电脉冲数值。若此时两个时间窗同时关闭，则仪表读数为整个椭圆上脉冲之峰值。