YQ-B变频抗干扰介质损耗测试仪测量介质损耗的仪器

YQ-B变频抗干扰介质损耗测试仪测量介质损耗的仪器

一、概述： 
    YQ-B变频抗干扰介质损耗测试仪是一种*的测量介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）的仪器，用于工频高压下，测量各种绝缘材料、绝缘套管、电力电缆、电容器、互感器、变压器等高压设备的介质损耗（tgδ）和电容容量（Cx）。它淘汰了QSI高压电桥，具有操作简单、中文显示、打印、使用方便、无需换算、自带高压，抗干扰能力强， 测试时间短等优点，是我公司的第三代智能化介质损耗测试仪。
二、特点：
  YQ-B变频抗干扰介质损耗测试仪为升压与测量一体化结构，输出电压2.5KV~10KV五档可调，以适应各种需要，在测量时无需任何外部设备。接线与QSI电桥相似，但比其方便。
  标准回路由内置高压稳定度标准电容器与标准电阻网络组成，由计算机实时采集标准回路电流与测试回路的电流幅值及其相位差，并由之算出被测试品电容容值（CX）和其介质损耗（tgδ）。 
数据采集电路全部采用高压稳定器件，采集板和采集计算机被铁盒*浮空屏蔽，仪器外壳地屏蔽；另外使用了光导数据、浮空地、大面积地、单点地、数字滤波等抗干扰技术，加之计算机对数百个电网周期的数据进行处理，使测量结果稳定、、可靠。
三、技术参数：
1、抗干扰方式：变频抗干扰
2、测试方式：正接法  反接法  自激法  外接法  
3、测量范围：     
   电容量：内接高压  <3pF~60000pF/10kV   60pF~1μF/0.5kV 
   外接高压  3pF~0.3μF/10kV    zui小分辨率 0.01pF  有效数字五位   
   介损：不限,zui小分辨率0. 01%
4、准确度：
   电容量：±(1.5%读数+2pF)        介损：±(2%读数+0.09%)
   内接试验电源：0.5~10kV  电压缓升缓降      45、50、55、60、65Hz单频   
   45/55Hz自动双频测试        zui大输出电流200mA
   自激电源3~50V变频          zui大输出电流20A
5、测量时间：约30秒（与测量方式有关）    
6、输入电源：供电电源180~240VAC   50Hz（市电或发电机供电）
7、工作环境：温度范围：－10℃~50℃     相对湿度<90%